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离子迁移试验设备

简要描述：离子迁移试验设备，在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。

  • 更新时间：2024-05-14
  • 访  问  量：1000
  • 厂商性质：生产厂家
  • 九游会J9·登录大厅型号：HVUα_3000V
品牌其他品牌产地进口
加工定制是

离子迁移试验设备

离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）, , 经过长时间的测试（1 ～1000  小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）, , 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF  试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，九游会J9平台将其统称为绝缘劣化试验。（ ION MIGRATION TESTING ）

适用规格 ： JPCA- - ET01- - 2001

通过最大3000v直流偏压，它可以测试TDDB测试、高压离子迁移和绝缘测试，例如高压设备、高压电路板和高压部件。

此外，HVUa系列还可以测试太阳能系统框架和电池之间的漏电。HVUa系列可在每个通道上设置50-3000v的任何电压

离子迁移试验设备

支持测试检测瞬时局部放电的最大30oov

通过每个通道反馈控制精确的输入偏置

在1个系统中扩展最大20Och（5Och x 4case）

通过有源保护电缆进行低噪声测量

通过不使用机械继电器确保高可靠性

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